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XRF X荧光光谱仪

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EDX 6800 X荧光光谱仪

EDX 6800 X荧光光谱仪

产品详情


 技术参数

测试对象:粉末、固体、液体

分析元素范围:Na-U

测试时间:100-200S

管压:10KV-50KV

管流:50uA-1000uA

最佳分辨率:139±5ev

最低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤1PPm pb≤2ppm Ci≤5ppm

输入电源:AC220V±10%,50Hz(建议配置净化稳压电源)

额定功率:300W(包含电脑)

环境温度:15℃-28℃

环境温度:40%-70%

样品腔尺寸:450mm*350mm*100mm

外形尺寸:660mm*500mm*330mm

重量:62Kg


主要性能优势:

集合了多年RoHS检测经验,模块化的功能设计理念,便于应对指令进行、检测元素内容的升级;更为精巧的工艺,实现小体积的检测;更智能、方便的测试分析软件,操作人性化、功能强大化;

全光路射线防护系统配合经典的三重安全防护审计,同时采用软、硬件双重安全连锁,确保辐射安全性能。

 

 仪器配置:

   X荧光光谱仪专用光管

   高分辨率电制冷半导体探测器

   高压电源

   光管散热系统,光路优化系统及复合滤          

   光处理系统

   内置高清晰CCD摄像头

   自动切换的准直器和滤光片

   三重安全保护模式

   标样

   计算机

   打印机

 

主要应用优势:

     提供开放性工作曲线功能,根据企 业物 料情况量身定做最好的有害元素检测和控制方案;独有的光管散热系统,大大延长X光管的寿命,降低使用成本。多种准直器和滤光片自动切换,满足了不同样品的测试,实现了全自动一键测试。

 

解读RoHS指令和WEEE指令

2003年2月13日,欧盟官方公布了《关于报废电子电气设备的指令》(2002/96/EC,简称WEEE)和《关于电子电气设备中限制使用某些有害物质的指令》(2002/95/EC,简称RoHS),规定从2005年8月13日起实施WEEE的生产者责任,从2006年7月1日起在相关电子电器中禁止使用六种有害物质。

 

                         l XRF检测RoHS指令的筛选性分析方法

 


                                 RoHS指令检测标准

有害物质元素

Cd

Pb

Hg

Cr6+

PBBs

PBDEs

Cl

Cl+Br

限量标准(PPM)

100

1000

1000

1000

1000

1000

900

1500

 

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